画像電子学会の国際標準化教育研究会は,国際標準化の教育・人材育成を研究対象とし,国際標準を軸にして国内を含め身近な標準に関する問題を人材育成という観点から考え,議論する場を提供しています。
このたび,下記内容で第18回国際標準化研究会の開催を企画いたしました。多数の皆様のご参加をお待ちしております。
研究会の詳細につきましては当研究会のウェブページ(http://www.y-adagio.com/public/committees/std/std.htm)に掲載していますので,ご確認ください。
日時: | 2016年8月26日(金) 13:00〜17:00 |
場所: | 金沢工業大学虎ノ門キャンパス,11階1111教室 〒105-0002 東京都港区愛宕1-3-4 愛宕東洋ビル アクセス方法; 東京メトロ銀座線虎ノ門駅,東京メトロ日比谷線神谷町駅,都営地下鉄三田線御成門駅のいずれからも徒歩8分。(http://www.kanazawa-it.ac.jp/tokyo/map.htmを参照) |
テーマ: | 認証と国際標準 |
協賛: | 画像関連学会連合会(FIS) |
参加費: | 会員およびアソシエイト 1,000円 非会員 2,000円 (当日の受付にてアソシエイトになって頂きますと,入会・年会費(1,000円)を含む計2,000円で参加できます。) 研究会運営のため,講演者も含め参加費をお願いしていますが,研究会委員長の承認を得た場合は無料になります。 |
13:00-13:05 | 座長 開会挨拶 | ||
13:05-13:50 | 1. 認証の概要と重要性 | 大塚 玲朗 | (経済産業省) |
13:50-14:35 | 2. 北米の認証制度の歴史的背景と現状 | 郡 泰道 | (UL Japan) |
14:35-15:20 | 3. 製品認証の実際 | 津布子 泰和 | (ソニー) |
15:20-15:30 | 休憩 | ||
15:30-16:15 | 4. 抗菌製品技術協議会の自己認証制度−製品信頼性のために | 藤本 嘉明 | (抗菌製品技術協議会) |
16:15-16:55 | 5. パネル討論 | 全講師,モデレータ: 和泉章* |
(*: 製品技術評価基盤機構) |
16:55-17:00 | 座長 閉会挨拶 |
上記の講師および講演表題には,現在調整中のものがあります。
事前参加申し込みは,下記の参加申込書に必要事項をご記入のうえFAXで事務局までお送り頂くか,画像電子学会のウェブページ(https://www.iieej.org/trans/kenaf.htm)から行って下さい。当日も受け付けていますが,事前申込の方にはハードコピーの予稿集を用意いたします。
FAX送付先 03-5615-2894 | 画像電子学会事務局 行 (〒116-0002 荒川区荒川3-35-4 ライオンズマンション三河島第二 101号室) |
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