日本工業規格 JIS X 4173:2001
         (ISO/IEC 13673:2000)  

      標準一般化マーク付け言語(SGML)システムの適合性試験

まえがき

序文

0. 導入

1. 適用範囲

2. 引用規格

3. ISO 8879の優先

4. 定義

5. SGML試験文書集合の利用

6. 試験文書集合の文書化

7. 試験の種別

8. 個々の試験に関する一般要件

9. 試験項目の命名規則

10. SGML名及びリテラルに対する要件

11. 文字列長の試験の規則

12. 入力文書のフォーマット付け規則

13. 試験の分類

14. SGML試験用基準アプリケーション(RAST)

15. 容量試験用基準アプリケーション(RACT)

16. 試験文書集合報告

17. SDIFデータ列の試験

　

附属書A(規定) ISO 8879要素構造情報集合(ESIS)

附属書B(参考) ISO 試験例及びRAST結果

附属書1(参考) ISO/IEC 13673:2000

　

解説